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12年HCPL-M456-500E 产品描述
小外形,铅5智能功率模块光电耦合器
可靠性数据显示,包括Avago Technologies(安华高科技)过去三年,该产品系列的可靠性试验数据。所有这些产品都使用相同的LED,类似IC,并在相同的包装材料,过程,压力条件和测试。表1和表2中的数据反映了每个通道的基础上的设备的实际测试数据。请注意,根据MIL-HDBK-217,单通道器件小时等于1.5倍的双通道器件小时。应激前预处理,所有设备都使用IR回流焊工艺(EIAJ个人资料,3X)和20个温度循环(-55°C至+125°C,15分钟的停留时间,5分钟传输)。这些数据均取自Avago Technologies(安华高科技)Avago Technologies(安华高科技)内部过程,材料规格,设计,标准,统计过程控制设备的测试。他们没有转移到其他厂商的类似部件类型。
工作寿命测试
对于有效的系统的可靠性的计算,它是必要的调整时间,当系统未处于操作。请注意,如果您使用的是MIL-HDBK-217元件的可靠性的预测,结果可能不具有可比性
表2给出了不同的条件和因素,已经占到了MIL-HDBK-217。例如,你的申请将行使所有可用的频道在全额定功率与LED(S)总是ON Avago Technologies(安华高科技)的测试是不可能的。因此,您的应用程序的总功率和占空比必须仔细考虑使用MIL-HDBK-217的预测进行比较时,表2。
定义失败
无法切换,即“功能故障”,是定义
本数据表中的失败。具体来说,发生故障
设备出现故障时切换ON推荐的最小驱动电流具有2倍(但不超过
最大。等级)或OFF切换失败时,有没有输入电流。
故障率预测
证明点测量到故障时间(MTTF)在绝对最大应力状态。在表2中使用的故障率预测的Arrhenius加速度的关系,其中一个0.43eV活化能
被用作在MIL-HDBK-217的混合部分。